CPK名词解释及方程式组成结构:
CPK=CP *(1 - K)

控制上限 - 控制下限
设计下限CPK 方程式:

设计上限 - *
设计最大值+设计最小值
2
(1 - (控制上限 )
- 控制下限)/ 2
-
平均数
控制上限 - 控制下限 CP : 方程式: 设计上限 - 设计下限
(Xi-X-)2∑
:西格玛 方程式: σ
N
K: 方程式:
μ – 平均数
(设计上限 - 设计下限)/2
μ: 方程式:



测量最大值+平均数
2
U:设计目标数
设计上、下限: 设计上限: 平均数+ 3σ 设计下限:平均数- 3σ
控制上、下限:图纸的控制要求尺寸,如 100±0.25 ,则尺寸控制上限为100.25,控制下限为99.75。 X
–
(AVERAGF): 平均数(每组数据总和的平均值)
R :客户所需求的σ倍数 N :数据组内的数据个数 ∑ :求合数
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